Microchip ha introdotto il nuovo analizzatore di rumore di fase 53100A per la misurazione precisa e accurata dei segnali di frequenza, inclusi quelli generati da orologi atomici e altri moduli e sottosistemi di riferimento di frequenza ad alte prestazioni. Il 53100A può misurare segnali in radiofrequenza (RF) fino a 200 MHZ e può acquisire segnali in frequenza e caratterizzare il rumore di fase, il jitter, la deviazione Allan (ADEV) e la deviazione temporale (TDEV) in modo rapido e preciso.
Il Phase Noise Analyzer può essere configurato in diversi modi e consente di testare fino a tre dispositivi separati contemporaneamente utilizzando un unico riferimento, il che consente una maggiore capacità di misurazione della stabilità. Con le dimensioni di 344 x 215 x 91 mm (13,5 x 8,5 x 3,6 pollici), il dispositivo può essere integrato nella produzione di sistemi ATE (Automated Test Equipment) ed è anche abbastanza potente per la metrologia di laboratorio. La sua interfaccia fornisce la retrocompatibilità con i comandi e il flusso di dati dei set di test 51xxA di Microchip, riducendo la necessità di riprogettare l'infrastruttura ATE esistente.
L'analizzatore di rumore di fase 53100A consente di collegare un dispositivo di riferimento in ingresso attraverso il pannello anteriore a una frequenza nominale diversa rispetto al dispositivo in prova, ciò fornisce flessibilità e consente a un singolo riferimento di caratterizzare una varietà di prodotti oscillatori. Gli standard di frequenza al rubidio come l'8040C-LN di Microchip o un oscillatore al quarzo come l'oscillatore a cristallo Ovenized 1000C (OCXO) di Microchip potrebbero essere utilizzati come riferimento così come gli oscillatori precisi di altri produttori.
L' analizzatore di rumore di fase 53100A è stato progettato appositamente per ingegneri e scienziati che necessitano di una misurazione precisa e accurata dei segnali di frequenza generati per reti 5G, data center, veicoli spaziali di sistemi aerei commerciali e militari, satelliti di comunicazione e applicazioni metrologiche.